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地址:北京市海淀区信息路甲28号科实大厦B座11D-05
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产品名称:Inspect F50 场发射扫描电子显微镜 |
产品品牌:FEI |
产品类别:电子显微镜 |
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产品详细描述: |
仪器简介: 在结构研究中, 大量的样品需要在高放大倍数、更多细节的水平上进行观察和分析。同时, 随着样品种类的不断增多(如: 低原子序数材料, 不导电材料等), 需要扫描电子显微镜提供优异的低加速电压性能, 以获得高质量的真实表面图像。Inspect F50 场发射扫描电子显微镜系统就是根据这一要求而设计的。它还提供了低加速电压的背散射电子图像, 薄样品的暗场/明场STEM(扫描透射)像。Inspect F50 系统操作和维护方便, 同时可安装各种扫描电镜的附件(如: 能谱仪系统, 波谱仪系统, EBSD等等)。Inspect F50 是一款经典的场发射扫描电子显微镜。
技术参数: 1.灯丝: 超高亮度Schottky场发射灯丝 2.分辨率:1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV 二次电子: 1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV 减速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可选项) 背散射电子: 2.5nm @ 30kV 3.加速电压:200 V - 30 kV, 连续可调 4.探测器:E-T二次电子探测器,可选背散射探测器 5.50x50mm 4轴马达驱动全对中样品台
主要特点: 1.分子泵 + 离子泵真空系统 2.高稳定性、超高亮度场发射灯丝,满足高分辨观察和微观分析的要求 3.可选FEI独特的STEM探测器,分辨率达到0.8nm 4.稳定的大束流(最大200nA)确保高速、准确的能谱、波谱和EBSD分析 5.Windows XP操作系统
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