仪器简介：
JCM-5700不仅可以利用二次电子信息进行样品表面观察，还可以利用背散射电子成份衬度像进行异物及多层膜观察。另外，还可以使用能量分散型光谱仪（EDS）进行元素分析。在任何地方都可以使用的可移动特性,广泛应用于科研和生产等多种领域。
技术参数：
1.Resolution:5nm 
2.Accl V. :0.5～20KV 
3.Magnification:×8～300,000 
4.TMP 

主要特点：
1.生产现场-研究室用SEM 
1)在任何地方都可以使用的高性能可移动式SEM 
2)运行成本低(长时间不用维护) 

2.检查项目-研究题目等各项条件均可记忆 
1)任何人都可以得到良好结果的高度再现性 
2)可以设定独立的操作条件，使用更加自由的MY SEM 

3.轻松获得几万倍的图像 

4.简单友好的操作界面 

5.仪器启动仅需3分钟